Моделирование развития трещин в проводниках печатных плат как последствий технологических дефектов
Авторы: Буц Виктор Петрович, Телегин Алексей Михайлович, Калаев Михаил Павлович
Рубрика: Технические науки
Опубликовано в Молодой учёный №21 (101) ноябрь-1 2015 г.
Дата публикации: 23.10.2015 2015-10-23
Статья просмотрена: 26 раз
Библиографическое описание:
Буц, В. П. Моделирование развития трещин в проводниках печатных плат как последствий технологических дефектов / В. П. Буц, А. М. Телегин, М. П. Калаев. — Текст : непосредственный // Молодой ученый. — 2015. — № 21 (101). — С. 127-132. — URL: https://moluch.ru/archive/101/22762/ (дата обращения: 20.04.2024).
